Cryostat semi-automatique HS4000

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Cryostat semi-automatique HS4000

Caractéristiques:
© Dégivrage automatique/manuel ; Hibernation automatique/manuelle, réveil en 15 minutes ; Stérilisation UV ; Réfrigérant semi-conducteur ; Nombre de tranches et calcul de l'épaisseur ; 2 vitesses de mouvement de la pince à échantillon.
© couvercle de modèle injecté unique ; conception en verre chauffant antibuée ; écran tactile à cristaux liquides chromatique.
© Microtome :
Volant léger et lisse avec dispositif de verrouillage ; La pince à échantillon permet un réglage triaxial avec un bloc au centre pour revenir en arrière. Les rails de guidage de haute précision fabriqués en Allemagne rendent la transmission lisse et durable et permettent de couper des échantillons durs ; Rétraction Chambre de congélation ; La chambre extra large avec une large étagère de congélation peut contenir 20 disques d'échantillons. Avec plateau à déchets et support à instruments.
© Porte-lame :
Lames larges ou étroites en option ; un verrou à came anti-fatigue garantit le serrage des lames ; la pince de lame peut être déplacée horizontalement sur le rail de guidage pour plus de sécurité et pour utiliser pleinement une lame ; Une tige de poussée fait sortir la lame.
© Électrique :
Type de sécurité : catégorie L, type B ; fréquence de tension : AC 220 V, 50 Hz (± 10 %) ou AC 110 V, 60 Hz (± 10 %) ; puissance d'entrée : 650 VA

Technique:


Plage de réglage de l'épaisseur de section : 0 um - 100 um

Chambre de congélation 

La plage de réglage de la température : ﹣35 ℃ à 40 ℃ réglable

Dégivrage : Manuel / Auto 

Capacité frigorifique : 690 W

Réfrigérer :R449A/400g±5g

Clayette de congélation rapide 

Température minimale :﹣40 ℃

Nombre de points de congélation du porte-échantillon : 18

Nombre de points de congélation des semi-conducteurs : (commutable) 2

Course verticale de l'éprouvette :59 mm ± 0,5 mm

Trait horizontal de l'échantillon :25 mm ± 1 mm

Taille maximale de l'échantillon : 55 mm X 55 mm

Angle réglable maximum de la pince à spécimen : 12 ° pour l'axe X&Y, 360 ° pour l'axe Z

Vitesse d'avance et de rembobinage lente de l'échantillon : 300 μm/s

 Vitesse d'avance et de rembobinage rapide : 900 μm/s


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